Máy quang phổ huỳnh quang tia X tán xạ năng lượng EDX-7200 là thế hệ thiết bị phân tích cao cấp mới nhất từ Shimadzu (Nhật Bản). Được trang bị đầu dò SDD làm mát điện tử hiện đại, EDX-7200 mang lại tốc độ đếm vượt trội, giới hạn phát hiện siêu vi lượng và độ chính xác tuyệt đối mà không cần sử dụng nitơ lỏng. Đây là giải pháp phân tích không phá hủy hoàn hảo cho các ứng dụng sàng lọc RoHS, halogen, đo độ dày lớp mạ, phân tích thành phần vật liệu và đặc biệt là giám định vàng thật/giả, định lượng chính xác tỷ lệ vàng (tuổi vàng) trong mẫu.
1. Bảng so sánh thông số kỹ thuật chi tiết: EDX-7200 vs Biến thể tiền nhiệm
Để giúp quý khách hàng dễ dàng nhận diện những nâng cấp vượt trội mang tính cách mạng của dòng sản phẩm mới, dưới đây là bảng so sánh chi tiết giữa EDX-7200 và các model đời trước (EDX-7000 / EDX-720).
*Các thông số khác biệt được ưu tiên xếp lên trên; các thông số tiêu chuẩn giống nhau được gom chung thông số vào cùng 1 hàng cho dễ nhìn.
| Thông số kỹ thuật | Model EDX-7200 (Thế hệ mới) | Model EDX-7000 | Model EDX-720 (Đời cũ) |
|---|---|---|---|
| Tốc độ xử lý mạch đếm | Tăng vượt trội gấp 30 lần (so với EDX-720) | Tiêu chuẩn | Cơ bản (1x) |
| Thời gian đo mục tiêu | Rút ngắn chỉ còn xấp xỉ 1/30 | Khá nhanh (Xấp xỉ 1/10) | Tiêu chuẩn (1/1) |
| Giới hạn phát hiện (Pb trong hợp kim đồng) | Siêu vi lượng: 9.9 ppm | 17.1 ppm | 35.5 ppm |
| Giới hạn phát hiện (Pb trong Nhôm) | Siêu vi lượng: 0.7 ppm | 11.0 ppm | 33.0 ppm |
| Ứng dụng giám định Kim loại quý | Đo tuổi vàng, kiểm tra vàng thật/giả và tạp chất siêu nhanh | Đo tuổi vàng tiêu chuẩn | Phân tích cơ bản |
| Bộ lọc chính (Primary Filters) | 5 bộ lọc tự động (mới tích hợp lọc Ti đến Co) | 4 bộ lọc tự động | 4 bộ lọc tự động |
| Diện tích lắp đặt thân máy | Nhỏ gọn hơn 20% (Tiết kiệm không gian) | Tiêu chuẩn | Lớn (100%) |
| Hệ thống phần mềm PC | PCEDX Navi (Trực quan) & PCEDX Pro | PCEDX Pro | PCEDX phần mềm cũ |
| Phạm vi nguyên tố phát hiện | 11Na đến 92U (Natri đến Urani) | ||
| Đầu dò tia X (Detector) | Đầu dò SDD thế hệ mới (Làm mát điện tử bán dẫn) | Đầu dò Si(Li) / Công nghệ cũ | |
| Yêu cầu Nitơ lỏng (LN2) | HOÀN TOÀN KHÔNG CẦN (Giảm chi phí vận hành) | Bắt buộc phải sử dụng | |
| Kích thước buồng mẫu lớn | Tối đa: W300 × D275 × H100 mm (Chứa mẫu đa dạng kích cỡ) | ||
| Hệ thống ống phóng tia X | Ống đích Rh (Rhodium) hiệu suất cao | ||
| Bộ chuyển đổi Collimator | Tự động chuyển đổi 4 vị trí linh hoạt: φ 1mm, 3mm, 5mm, 10mm | ||
| Camera quan sát mẫu | Tích hợp sẵn theo tiêu chuẩn sắc nét, định vị khu vực chiếu xạ chính xác | ||

2. Đặc điểm kỹ thuật và công nghệ đột phá của EDX-7200
- Tốc độ đếm siêu cao & Phân tích nhanh: Nhờ sự kết hợp giữa đầu dò SDD tiên tiến và mạch xử lý tín hiệu tốc độ cao, EDX-7200 đạt tốc độ đếm tăng 30 lần. Thời gian đo giảm xuống chỉ còn 1/30 giúp tăng tối đa năng suất phòng thí nghiệm và trả kết quả phân tích vàng, kim loại quý chỉ trong vài giây.
- Độ phân giải năng lượng vượt trội: Thiết bị làm giảm đáng kể hiện tượng chồng chéo đỉnh năng lượng của các nguyên tố gần nhau (như Vàng – Au, Bạch kim – Pt, và các kim loại nền bọc bên trong), nâng cao độ tin cậy vượt trội khi phát hiện tạp chất hoặc lõi giả trong trang sức phức tạp.
- Tối ưu hóa độ nhạy với 5 bộ lọc chính: Hệ thống tự động thay đổi linh hoạt 5 bộ lọc giúp triệt tiêu tia X liên tục từ ống phóng, tăng tỷ lệ tín hiệu trên nhiễu (S/N) cho các nguyên tố vi lượng, đặc biệt hiệu quả vượt trội cho dải nguyên tố từ Ti đến Co.
- Giải pháp phân tích nguyên tố nhẹ (11Na đến 15P): Khi tích hợp thêm tùy chọn bộ hút chân không hoặc bộ xả khí Helium tinh khiết, cường độ tín hiệu của các nguyên tố nhẹ được tăng cường mạnh mẽ, cho phép đo chính xác các mẫu chất lỏng, dầu bôi trơn mà không lo bay hơi.
3. Các thuật toán định lượng tiên tiến tích hợp
- Phương pháp đường cong chuẩn (Calibration Curve Method): Hỗ trợ đầy đủ các hiệu chỉnh hấp thụ, kích thích và chồng chéo nguyên tố, mang lại độ chính xác cực cao khi sử dụng các mẫu vàng chuẩn.
- Phương pháp tham số cơ bản (Fundamental Parameter – FP): Tính toán nồng độ dựa trên cường độ lý thuyết, cho phép định lượng chính xác tỷ lệ % của Vàng (Au) và các kim loại đi kèm (Ag, Cu, Ni, Zn…) trong các hợp kim vàng tạp pha phức tạp mà không cần mẫu tiêu chuẩn.
- Phương pháp FP màng mỏng (Thin-Film FP): Đo đồng thời độ dày lớp mạ và thành phần tỷ lệ nguyên tố của các lớp mạ đa tầng. Thuật toán này cực kỳ hữu ích để bóc tách, phát hiện vàng giả dạng bọc/mạ dầy (mẫu có lõi là vonfram/đồng nhưng mạ lớp vàng thật bên ngoài).
- Phương pháp FP nền (Background FP): Thuật toán độc quyền đưa tia X tán xạ (Rayleigh và Compton) vào tính toán, giúp đo chính xác độ dày và thành phần trên các chi tiết trang sức có hình dạng tinh xảo, không đều hoặc gồ ghề (như nhẫn, lắc tay, dây chuyền) với sai số thấp nhất.
4. Ứng dụng đa ngành toàn diện
- Kiểm định và Giám định Vàng, Kim loại quý:
- Xác định vàng thật/giả: Phát hiện chính xác các thủ đoạn tinh vi như vàng chứa lõi Vonfram (Tungsten), các mẫu trang sức giả mạo hoặc mỹ ký mạ vàng dày nhờ thuật toán phân tích màng mỏng và camera định vị mẫu siêu nét.
- Định lượng tỷ lệ vàng (Tuổi vàng): Phân tích hàm lượng % tinh khiết của Vàng (Au), Bạc (Ag), Đồng (Cu), Bạch kim (Pt)… để quy đổi ra chính xác số Karat (từ vàng 10K, 14K, 18K đến vàng ròng 24K – 99.99%) hoàn toàn không phá hủy bề mặt hay làm hao mòn mẫu vật.
- Điện – Điện tử & Công nghiệp ô tô: Sàng lọc thần tốc các chất độc hại theo tiêu chuẩn RoHS, Halogen, ELV (Pb, Cd, Cr, Hg, Br, Cl, Sb) trong linh kiện, nhựa, vật liệu bán dẫn.
- Cơ khí mạ & Luyện kim: Đo độ dày lớp mạ bề mặt và kiểm tra nhanh thành phần hợp kim, mối hàn không chì, kim loại quý.
- Hóa dầu & Năng lượng: Phân tích chính xác hàm lượng lưu huỳnh (S) trong xăng dầu, dầu thải và các nguyên tố phụ gia trong dầu bôi trơn.
- Môi trường & Dược phẩm: Xác định tạp chất, kim loại nặng độc hại trong đất, nước thải, bộ lọc bụi mịn PM2.5, và kiểm soát chất xúc tác dư (như Pd) trong hạt nhựa hữu cơ, dược phẩm.







